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    所述支撑条431和所述第二支撑条432一一平行对应设置，所述连接部433活动连接所述支撑条431和所述第二支撑条432，所述支撑条431固定设置于所述底座41上，所述接触部434均匀设置在所述第二支撑条432上。同时可通过设置所述支撑条431的高度或所述支撑条431的固定位置从而调节所述底支撑件43的高度，如通过将上述支撑条431的两端固定在两所述竖直平板421上。较佳的，所述支撑条431和所述第二支撑条432上设置有磁性组，所述支撑条431和所述第二支撑条432在所述磁性组提供的磁性斥力作用下具有调节间隙。所述磁性组包括磁性件435和第二磁性件436，所述磁性件435和所述第二磁性件436分别设置于所述支撑条431和所述第二支撑条432上，且所述磁性件435和所述第二磁性件436之间具有磁性斥力，从而使所述第二支撑条432悬浮于所述支撑条431的上方。所述连接部433设置有限位孔437，所述限位孔437设置为腰型孔，所述支撑条431的水平两侧均设置有若干限位块438，所述第二支撑条432的水平两侧均设置有若干第二限位块439，所述限位块438和所述第二限位块439一一对应设置，对应设置的所述限位块438和所述第二限位块439均设置在同一所述连接部433的所述限位孔437内。如何正确使用减薄用清洗剂的。广州国产减薄用清洗剂销售厂家

    经减薄处理后的玻璃可再次进入所述冲洗区2以经历减薄后清洁并且通过所述转换区1被卸载到外部；所述玻璃减薄设备还设置有制动组件，通过所述制动组件实现所述玻璃加工治具4从所述转换区1经所述冲洗区2向所述蚀刻区3的减薄前移动，以及从所述蚀刻区3经所述冲洗区2向所述转换区1的减薄后移动。在本实施例中，图1内并排设置有2个所述玻璃减薄设备，所述冲洗区2包括冲洗区2、第二冲洗区2和第三冲洗区2，所述第二冲洗区2设置于所述冲洗区2和所述第三冲洗区2之间，所述冲洗区2设置于所述第二冲洗区2和所述转换区1之间，所述第三冲洗区2设置于所述第二冲洗区2和所述蚀刻区3之间。所述转换区1可升降的折叠式结构，从而便于所述玻璃加工治具4在所述转换区1的放置或卸下。较佳的，所述转换区1还设置有装卸臂，通过所述装卸臂可实现对所述玻璃加工治具4的上下料，以及单片玻璃的拿取检测。实施例二如图2所示，图2为所述蚀刻区的结构示意图；所述蚀刻区3包括腔室31、主厚度测量仪32、喷淋组件33和控制器；所述喷淋组件33在所述腔室31中对设置于所述玻璃加工治具4上的玻璃施加减薄处理，所述主厚度测量仪32实时测量在所述腔室31内经历减薄处理的玻璃厚度。安徽玻璃用减薄用清洗剂厂家现货清洗剂的分类有哪些；

    用于将空气喷射到玻璃的将被暴露于激光束的预定部分并因此瞬时去除喷淋液，从而可得到更准确地玻璃厚度测量数据。一般的，所述目标厚度为减薄处理后所需求玻璃的理论厚度值，所述理论厚度值为具有公差的范围值。所述玻璃减薄生产线还包括辅助厚度测量仪，所述辅助厚度测量仪设置在所述冲洗区2中并用于再次测量经减薄处理后的玻璃厚度，所述辅助厚度测量仪将测得玻璃厚度发送到所述控制器。所述辅助厚度测量仪的设置可降低所述主厚度测量仪32失灵或因所述蚀刻区3中的阻碍因素不能正确测量玻璃厚度时异常操作而造成的玻璃减薄缺陷，所述阻碍因素可以为喷淋液的喷淋阻碍或所述玻璃加工治具4的振动。所述控制器基于所述辅助厚度测量仪测得的玻璃厚度确定在所述蚀刻区3中是否正常执行减薄处理或者所述主厚度测量仪32是否正确工作。一般的，从所述辅助厚度测量仪接收的玻璃的厚度超出目标厚度的公差范围，则所述控制器确定所述主厚度测量仪32无法正确工作或者在所述蚀刻区3中没有正常执行减薄处理。在这种情况下，所述控制器发出警报来通知管理者，所述主厚度测量仪32失灵或者所述蚀刻区3中的减薄处理异常。所述主厚度测量仪32失灵或所述者蚀刻区3中的减薄处理异常可能是暂时的。

    且所述限位块438和所述第二限位块439均可在所述限位孔437内移动，通过所述连接部433的限位效果，避免所述支撑条431和所述第二支撑条432在磁力作用下产生脱离，从而使所述支撑条431和所述第二支撑条432在磁力和所述连接部433的限位力作用下保持平衡。一般的，所述位块438和所述第二限位块439均设置为圆柱型，从而便于所述限位块438和所述第二限位块439在所述限位孔437内的移动。当放置于所述底支撑件43上的玻璃受到冲击或振动时，所述支撑条431可相对于所述第二支撑条432作水平方向的偏移移动，或所述限位块438和所述第二限位块439均在所述限位孔437内移动，使所述支撑条431可相对于所述第二支撑条432作竖直方向的移动，从而可实现对各个方向上冲击力或振动的吸收缓冲效果，提高玻璃的安全性。较佳的，所述限位块438和所述第二限位块439可设置为螺钉，所述限位孔437宽度配合所述螺钉的螺纹直径设置，在所述支撑条431和所述第二支撑条432上设置螺纹孔，通过将所述限位块438和所述第二限位块439与所述螺纹孔螺纹连接，从而实现所述限位块438和所述第二限位块439在所述支撑条431和所述第二支撑条432上的固定。通过将所述限位块438和所述第二限位块439设置为螺钉。减薄用清洗剂，专为去除多余涂层设计，不留痕迹。。

    所述控制器进行第二次减薄厚度确认操作；具体的，通过设置于所述第三冲洗区2的第二辅助厚度测量仪进行厚度检测，从而实现所述减薄厚度确认操作，当所述减薄厚度未达到目标厚度时，所述玻璃加工治具4可再次进入所述蚀刻区3内进行减薄处理。所述主厚度测量仪32设置在其中对玻璃施加减薄处理的所述蚀刻区3中并且实时测量玻璃厚度，使得玻璃可更准确地具有目标厚度；所述辅助厚度测量仪设置在所述冲洗区2中，并且再次测量经历过减薄处理的玻璃的厚度，因此可以检查设置在所述蚀刻区3中的所述主厚度测量仪32是否无法正确工作，并且使减薄玻璃的缺陷率降至；且所述辅助厚度测量仪可提前测量待经历减薄处理的玻璃的厚度，因此可以检查设置在蚀刻区3中的主厚度测量仪32是否无法正确工作；所述第二辅助厚度测量仪设置在所述第三冲洗区2，从而在减薄后清洗终完成后，再次进行厚度检测，从而检测预从所述玻璃减薄生产线运出的玻璃是否符合标准，并进一步降低减薄玻璃的缺陷率。以上所述为本发明的较佳实施例，对本发明而言是说明性的，而非限制性的。本专业技术人员理解，在本发明权利要求所限定的精神和范围内可对其进行许多改变，修改，甚至等效，但都将落入本发明的保护范围内。口碑好的减薄用清洗剂的公司联系方式。深圳减薄用清洗剂商家

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    本发明涉及半导体制造技术领域，更具体地说，涉及一种抛光减薄装置和抛光减薄方法。背景技术：采用iii-v族化合物制作的半导体器件和超高速数字/数模混合电路等凭借其优良的频率特性，已经成为通讯、雷达、制导、空间防御、高速智能化武器及电子对抗等现代化装备的部件之一。在众多的iii-v族化合物中，inp(磷化铟)化合物具有独特的优势，这主要得益于其优良的材料特性，例如，inp和ingaas(铟镓砷)之间的晶格失配很小，以及电子饱和速率很高等，所以不论是hemt(highelectronmobilitytransistor，高电子迁移率晶体管)结构还是hbt(heterojunctionbipolartransistor，异质结双极晶体管)结构，都具有非常优异的高频、大功率性能。但是，inp材料的物理性能却很差，非常易碎，很小的碰撞或振动都会导致晶圆碎裂而前功尽弃，因此，inp材料的制造加工面临着很多工艺上的难题。尤其是在超高频率、大功率的inp基rfic(射频集成电路)的制造工艺中，如何在对inp基晶圆进行减薄抛光时，减小或避免inp基晶圆的损伤是本领域技术人员亟待解决的问题之一。技术实现要素：有鉴于此，本发明提供了一种抛光减薄装置和抛光减薄方法，以减小或避免inp基晶圆的减薄抛光损伤。为实现上述目的。广州国产减薄用清洗剂销售厂家